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环形链轮询复用测试端口的高效测试结构
张玲, 邝继顺
计算机应用
2021, 41 (7):
2156-2160.
DOI: 10.11772/j.issn.1001-9081.2020081665
测试结构设计是集成电路（IC）测试的基础问题也是关键问题，而设计满足当代IC需求的测试结构对降低芯片成本、提高产品质量、增加产品竞争力具有十分重要的意义，为此提出了环形链轮询复用测试端口的测试结构RRR Scan。该结构将扫描触发器设计成多个环形链，环形链可工作于隐身模式、循环移位模式和直链扫描模式。循环移位模式实现了测试数据的重用，可减小测试集规模；隐身模式则可缩短测试数据移位路径，大幅降低测试移位功耗，因此该结构是具有数据重用和低功耗性质的通用测试结构。另外，该结构可将物理上相近的扫描单元设置于同一环形链内，布线代价不大。隐身模式使得测试数据的移位路径长度和时延均有所减小。实验结果表明，RRR Scan结构可大幅降低测试移位功耗，对于S13207电路，其移位功耗仅为扫描直链的0.42%。
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